儀器特點(diǎn)

原裝**紅外檢測儀器，配合最新24位A/D轉(zhuǎn)換技術(shù)，實現(xiàn)數(shù)據(jù)的高靈敏度，準(zhǔn)確度，實時采集和高速傳輸

光學(xué)臺一體化成型，主要部件一次定位，無需后期調(diào)整，大幅度提高儀器穩(wěn)定性和可靠性

一體成型鍍金角鏡，擁有高光通量和高發(fā)射率，免粘接工藝不受環(huán)境影響，提高儀器的穩(wěn)定性

電源開關(guān)位置更便攜，艙門打開方式更方便，是操作者更有效的完成樣品取放，從而有效的提升樣品檢測率

分離式干涉儀和探測器防潮設(shè)計，有效保護(hù)紅外光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)和探測系統(tǒng)，從而免受外界濕氣和有害其他的干擾和腐蝕

全新抗電磁干擾設(shè)計，一方面有效降低了對外電磁輻射，同時另一方面有效提高系統(tǒng)本身的抗電磁干擾能力，以符合電磁兼容設(shè)計規(guī)范要求

專用附件

ATR附件

漫反射附件

IRA-RD-N寶石鑒定附件

IRA-MC1紅外顯微鏡

紅外光纖探頭

IRA-RS-P平行光附件

HS-2中*基測試附件

HS-1中氧碳測試附件

水平ATR附件

  介紹一下薄膜法：

1.適用領(lǐng)域：熔點(diǎn)低，熔融時不發(fā)生分解，升華和其他化學(xué)變化的物質(zhì)，如塑料，橡膠等

2.操作流程：采用加熱熔融的方法壓制成薄膜后測定

3.有點(diǎn)：避免直接透射紅外信號溢出得的問題，相比反射法來說紅外譜圖信息更為豐富

4.所需附件：薄膜測試附件